Meetsysteem Evaluatie (MSE)

Meetsystemen komen in veel verschillende vormen voor: van relatief eenvoudig tot zeer uitgebreid daar waar dat nodig is. Zeker in de electrotechnische industrie worden meetsystemen vaak voor één specifiek product of productgroep ontwikkeld. Bij de ontwikkeling van deze systemen wordt vaak gebruik gemaakt van technieken om de meest waarschijnlijke defecten te voorzien en deze met behulp van het meetsysteem te kunnen detecteren.

Een nieuwe situatie ontstaat op het moment dat het meetsysteem in gebruik wordt genomen (of een nieuw product wordt opgestart): dan wordt pas echt duidelijk welke fouten een meer structureel karakter hebben, en welke meer incidenteel van aard zijn. Bovendien wordt dan ook duidelijk of het foutniveau zodanig is, dat met sample based testing kan worden volstaan.

Vaak loont het de moeite meetsystemen dan systematisch aan de tand te voelen.
Onze ervaring heeft ons een aantal dingen geleerd:

-	het meetsysteem is méér dan het meetapparaat alleen. Diverse keren hebben we gezien dat het effect van de omgeving groter was dan werd vermoed. Met als resultaat: veel onterechte uitval, met alle inspanningen (en stress) vandien.
-	het productieproces (assembly) en meetprogramma moeten goed op elkaar zijn afgestemd. Soms heb je maar heel weinig metingen nodig voor een goede terugkoppeling naar het assembly werk op de produktielijn. Ook kan -als op meerdere plaatsen in de keten wordt gemeten- afstemming over de produktieketen heen tot een evenwichtiger meetstrategie leiden.
-	de lokale bemanning heeft vaak geen tijd om de systematische analyse op te zetten, uit te voeren, resultaten te analyseren en te verifiëren, en op basis daarvan uitspraken te doen over de effectiviteit van het meetsysteem: men is te druk met hun primaire taak: het oplossen van acuut optredende problemen.

Vaak kunnen meetsystemen echter effectiever worden ingezet dan (feitelijk) wordt gedaan.

Effectiever betekent ook, dat meer producten kunnen worden bemeten (gecontroleerd) zonder dat dit nadelige gevolgen heeft voor de productkwaliteit of risico van doorslip naar de klant. Dit is zeer interessant op het moment dat men voor de keuze staat: investeren in (vaak dure) extra meetapparatuur + de noodzakelijke bemanning + opleiding + onderhoud daarbij, of op dezelfde manier doorgaan met te weinig capaciteit, zodat een deel van de producten niet of maar ten dele getest wordt, met alle risicos vandien.

Het systematisch analyseren van de effectiviteit van een meetsysteem -wat verder gaat dan de uitvoering van een standaard meetsysteem evaluatie- leidt tot een genuanceerd beeld over het effect van het weglaten of overslaan van bepaalde meetstappen, of van het niet controleren van het eindproduct. Ook wordt een goed beeld verkregen welke variabelen in het meetsysteem kritisch zijn. Deze sytematische analyse heeft al diverse keren tot opmerkelijke resultaten geleid, zowel in termen van besparingen (geen extra apparatuur nodig), als in termen van (onvermoede) mogelijkheden (op deze manier kunnen veel meer producten effectief gecontroleerd worden). Ook bleek uit deze analyses wat nodig was om deze effectiviteit te borgen.


Als u vragen heeft of meer inlichtingen wenst, kunt u contact opnemen met:
Ir.ir. P. Bekkers, telefoon: +31 40 211 6799, fax: +31 40 211 5719
E-mail: